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电容薄膜真空计得原理

更新时间:2026-05-27点击次数:18

电容薄膜式真空计是用于量测真空度的常用仪器,其量程范围可达25000Torr~10-5Torr左右,

其量程范围大,测量精度高;可直接测量压力,与气体的组分没有关系,灵活性高,

因此在半导体设备中应用非常广泛,主要应用于刻蚀、PVD、CVD、炉管(Furnace)等真空设备中

,一般在腔体与控压装置之间的管道上方(CKD forline)垂直安装。

电容薄膜式真空计由薄膜(上表面镀有金属)、电极、吸气泵、传感器等构成

吸气泵主要用于将参考腔体中的气体抽走,制造高真空的环境;

薄膜(一般为陶瓷薄膜,Al2O3,厚度约250μm)与电极形成电容,

当测量腔体的气体从真空计下端进入测量腔体后,气体会挤压陶瓷薄膜,

从而改变薄膜与电极之间的距离,因其电容值的变化,转化为电学信号,进而换算成压力值,

从而测量出腔体中的真空度。

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